エネルギー分散型蛍光X線分析装置の専門メ-カ-/アワ-ズテック㈱

小型・軽量・高性能蛍光X線分析装置「OURSTEX160」

東京都環境局選定機種 

OURSTEX160型は2006年3月に東京都が行った環境確保条例における土壌汚染調査
(重金属等)のための 簡易で迅速な分析技術(簡易分析法)に選定されました。

土壌汚染調査分析装置ourstex160の写真

 ■工場跡地の土壌分析に・・・
 ●非破壊で迅速な組成分析ができます。
 ●小型・軽量なのでオンサイト分析が可能です。
 ●中・重金属元素をターゲットに感度を向上しました。
 ●ユーティリティはAC100V-5Aのみです。
 ●装置内部が管理区域。



 
pdfアイコンカタログダウンロード(PDF形式)

要素技術の結晶/高感度・高精度

エネルギー分散型蛍光X線分析装置はX線管からの一次X線を試料に照射し、発生した蛍光X線を半導体検出器で計測することによりその試料の形状に拘らず非破壊で元素の定性・定量分析を行います。
半導体検出器は液体窒素冷却が不要な電子冷却方式のシリコンドリフトディタクタ(SDD)を使用しデジタル計数回路(DSP)との組み合わせで、高分解能・高計数率の測定が可能です。
分析性能を高めるために半導体検出器のエネルギー分解能、計数感度を最高に発揮できる励起光学系の条件を整えています。

寸法図

160サイズの画像

アプリケーション例

OURSTEX160仕様

 

測定原理  エネルギー分散型蛍光X線分析法
測定対象  土壌分析の環境試料(固体・粉体・液体)
測定元素  S、Cr、As、Se、Cd、Hg、Pb(13AI~92U)
試料形状  最大78mmφ×55mmH
試料室雰囲気  大気
X線定格出力  48kV,2mA 最大50W
検出器  電子冷却式シリコンドリフトディテクタ
計数回路  デジタル処理方式
使用条件  温度:5~27℃
 湿度:20~75%
 電源:AC100V、5A(50/60Hz)
 接地:D種接地
その他(オプション)  インクジェット式カラープリンタ、マウス

*OURSTEX160のご導入に関しては事前に労働基準監督署への届出が必要です。

お気軽にお問い合わせください。 TEL 072-823-9361 受付時間9:00~17:30(土日祝日除く)

メールでお問い合わせはこちら
Copyright © アワーズテック株式会社 All Rights Reserved.
Powerd by WordPress & BizVektor Theme by Vektor,Inc. technology.