蛍光X線分析装置「OURSTEX160型」
東京都環境局選定機種
OURSTEX160型は2006年3月に東京都が行った環境確保条例における土壌汚染調査
（重金属等）のための 簡易で迅速な分析技術（簡易分析法）に選定されました。
■工場跡地の土壌分析に･･･
●非破壊で迅速な組成分析ができます。 ●小型・軽量なのでオンサイト分析が可能です。 ●中・重金属元素をターゲットに感度を向上しました。 ●ユーティリティはAC100V-5Aのみです。 ●装置内部が管理区域。
カタログダウンロード（PDF形式）要素技術の結晶/高感度・高精度
エネルギー分散型蛍光X線分析装置はX線管からの一次X線を試料に照射し、発生した蛍光X線を半導体
検出器で計測することによりその試料の形状に拘らず非破壊で元素の定性・定量分析を行います。
半導体検出器は液体窒素冷却が不要な電子冷却方式のシリコンドリフトディタクタ（SDD）を使用しデジタル計
数回路（DSP）との組み合わせで、高分解能・高計数率の測定が可能です。
分析性能を高めるために半導体検出器のエネルギー分解能、計数感度を最高に発揮できる励起光学系の条件を整えています。
寸法図
アプリケーション例
- ヨウ化セシウム(CsI)化合物中のヨウ素(I)、セシウム(Cs)同時分析
- 焼却灰の分析例
- セメントの分析例
- 採石場での土砂・砂利・砕石の現場分析例
- アルミ合金(各種類)中のMg測定事例
- 農薬汚染土の分析
- 産業廃棄物の分析
- 土壌中の有害重金属元素分析
- オイル中の硫黄分析
- 新型固形燃料RPFの分析
OURSTEX160仕様
| 測定原理 | エネルギー分散型蛍光X線分析法 |
| 測定対象 | 土壌分析の環境試料（固体・粉体・液体） |
| 測定元素 | S、Cr、As、Se、Cd、Hg、Pb（13AI～92U） |
| 試料形状 | 最大78mmφ×55mmH |
| 試料室雰囲気 | 大気 |
| X線定格出力 | 48kV,2mA 最大50W |
| 検出器 | 電子冷却式シリコンドリフトディテクタ |
| 計数回路 | デジタル処理方式 |
| 使用条件 | 温度：5～27℃ 湿度：20～75％ 電源：AC100V、5A（50/60Hz） 接地：D種接地 |
| その他（オプション） | インクジェット式カラープリンタ、マウス |
製品の特徴